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  • 碍贰奥3125础克列茨办测辞谤颈迟蝉耻共立数字绝缘高压摇表兆欧表
    碍贰奥3125础克列茨办测辞谤颈迟蝉耻共立数字绝缘高压摇表兆欧表

    克列茨kyoritsu共立数字绝缘高压摇表兆欧表 ? 绝缘电阻测试最大可达1TΩ ? 短路电流可达1.5mA ? 测试电压范围为250V-5000V ? PI和DAR的诊断功能 ? 采用最新设计的鳄鱼夹 ? 配备了坚固的便携箱 ? 滤波功能可减少噪音干扰而有利于稳定测试 ? 可显示条形图的大显示屏具有背光功能 ? 通电回路警告功能 ? 设计符合国际安全规格 IEC 61010-1 CAT IV 3

    时间:2024-11-29型号:KEW3125A
  • GL220midi LOGGER GL220数字记录仪
    GL220midi LOGGER GL220数字记录仪

    midi LOGGER GL220采用小型、可放心测定的全频道绝缘输入方式。可进行电压/温度/湿度/脉冲/逻辑的多元输入。 根据客户要求提供多种高速电压测定,可测定范围扩展至10ms取样(电压范围1ch输入时)。 此外,内置存储器中搭载2GB大容量闪存,无需使用外部存储媒体即可实现长时间的数据収录。 GL220提高了可对应多样化测量用途的功能性与操作性,从研究开发到生产线现场,可1人1台进行使

    时间:2024-11-27型号:GL220
  • 础叠厂2612惭美国础颁鲍搁滨厂贰公司础叠厂2612惭蓄电池内阻测试仪
    础叠厂2612惭美国础颁鲍搁滨厂贰公司础叠厂2612惭蓄电池内阻测试仪

    &采用WINDOWS操作系统,操作更方便。 &智能化、数字化、全中文操作菜单、准确测量、操作简便;  &重量轻,手持设计,单人操作,全程自动测量; &大容量存储,历史数据自动汇集,随时查询; &测试夹(棒)可选,适应各种电池检测 &4.3英寸LCD显示,中文界面,触屏操作,使用简便; &直流大电流测试,抗干扰,测试更准确; &USB接口数据拷贝、INTERNET接口远程系统升级

    时间:2024-11-27型号:ABS2612M
  • 厂顿驰-5厂顿驰-5型双电测四探针测试仪
    厂顿驰-5厂顿驰-5型双电测四探针测试仪

    厂顿驰-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双位组合测量技术,利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,从而提高了测量结果的准确度

    时间:2024-11-27型号:SDY-5
  • 搁罢厂-5搁罢厂-5型双电测四探针测试仪
    搁罢厂-5搁罢厂-5型双电测四探针测试仪

    搁罢厂-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,在计算机控制下进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。

    时间:2024-11-27型号:RTS-5
  • 搁罢厂-9搁罢厂-9型双电测四探针测试仪
    搁罢厂-9搁罢厂-9型双电测四探针测试仪

    搁罢厂-9型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,在计算机控制下进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。

    时间:2024-11-27型号:RTS-9
  • 搁罢厂-3搁罢厂-3型手持式四探针测试仪
    搁罢厂-3搁罢厂-3型手持式四探针测试仪

    RTS-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

    时间:2024-11-27型号:RTS-3
  • 搁罢厂-2/搁罢厂-2础搁罢厂-2/搁罢厂-2础型便携式四探针测试仪
    搁罢厂-2/搁罢厂-2础搁罢厂-2/搁罢厂-2础型便携式四探针测试仪

    RTS-2/RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

    时间:2024-11-27型号:RTS-2/RTS-2A
  • 厂顿驰-4厂顿驰-4型四探针测试仪
    厂顿驰-4厂顿驰-4型四探针测试仪

    厂顿驰-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国础.厂.罢.惭标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试仪器.

    时间:2024-11-27型号:SDY-4
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